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Phenom PRO e ProX Generation 5: a alternativa aos SEMs tradicionais

O Microscópio Eletrónico de Varrimento Phenom Pro é um SEM de bancada capaz de garantir, de forma constantemente, imagens de extraordinária qualidade num curto espaço de tempo, proporcionando ao utilizador uma experiência incomparável. A Geração 5 dos modelos Pro e ProX veio acrescentar uma melhoria de desempenho, um aumento da resolução em 20% e novos recursos, tornando os equipamentos ainda mais versáteis e competitivos.

O Phenom Pro é um dos modelos mais avançados da série de Microscópios Eletrónicos de Varrimento da Thermo Fisher Scientific. Graças à fonte de cristais de estado sólido de CeB₆ de alto brilho e durabilidade, o Phenom Pro oferece imagens de qualidade excecional com uma intervenção mínima do utilizador.

O detetor de eletrões retrodifundidos (BSD) aliado ao feixe gerado pela fonte de eletrões, são otimizados para oferecer resultados com relações sinal-ruído incomparáveis para uma ampla variedade de amostras e condições de trabalho. O detetor de eletrões secundários (SED) está disponível como opção. Todos os modelos do Phenom World estão equipados com uma câmara ótica a cores para observação da amostra que funciona como um navegador (Never Lost Navigation), tornando assim a microscopia eletrónica acessível a todos.

Ao SEM Phenom Pro pode ser implementado, a qualquer momento, o pacote de software Pro Suite. Este pacote de software oferece várias aplicações que permitem a análise integrada e automatizada de imagens:

- Automated Image Mapping, para mapeamento de imagens

- 3D Roughness Reconstruction, para medições de rugosidade superficial

- Fibermetric, para caracterização de fibras

- Porometric, para tamanho e morfologia dos poros

- Particlemetric, para tamanho, número e morfologia das partículas (está disponível o acessório Nebula para dispersão de pós)

Por outro lado, o software Remote UI permite o controlo remoto do equipamento.

Encontra-se disponível uma ampla gama de suportes para amostras proporcionando uma maior facilidade de carregamento para todo o tipo de amostras, de materiais húmidos a materiais não condutores ou formas particulares. É possível ainda adicionar ao equipamento um suporte de amostra que permite inclinação e rotação.

Características/Especificações técnicas:

• Gama de magnificação: 80 - 150.000x

• Resolução: ≤ 8nm

• Fonte de cristais de estado sólido de longa duração e alto brilho (CeB₆)

• Gama de aceleração: 5, 10 e 15 kV - modo avançado na gama entre 4,8 kV e 15 kV com passos de 0.1kV

• Obtenção de imagem SEM após carregamento da amostra: <30 segundos

• Câmara a cores para navegação de amostra: zoom de 20 a 120x com possibilidade de operar em campo claro e escuro.

• Disponível pacote de software Pro Suite

• Baixo consumo de energia